Почта: company@ims-mos.com

Телефон: +7(499) 141-82-71

hexagon metrology WLS400A

Новейшие системы сканирования, осуществляющие свою работу в белом свете, являются уникальным инструментом для трехмерных оптических измерений. Они увеличивают производительность промышленного предприятия, улучшая качество продукции, значительно снижая производственные издержки, позволяя быстрее выводить продукцию на рынок и, как следствие, повышая прибыль по каждым видам продукции.

Система сканирования белого света WLS400A идеально подходит для автомобильной и аэрокосмической промышленности, так как способна в автоматизированном режиме с высокой надежностью собирать размерную информацию об объектах и контролировать качество изделий. Она идеально подходит для цеховой метрологии, так как работает быстро и качественно несмотря на наличие различных негативных факторов окружающей среды. Так благодаря системе скоростного сбора данных, любые вибрации в диапазоне частот до сотен Гц не влияют на качество результатов.

Новейшие технологии позволяют преобразовывать 2D и 3D изображения в высокоточные пространственные данные. WLS400A обеспечивает качество измерений не зависимо от размеров, сложности или геометрических характеристик объектов.

Основные преимущества:

- Зона обзора в единичном наблюдении 500мм х 500мм;

- Снижение затрат на обеспечение качества, оплату персонала, покупку КИМ;

- Удобство эксплуатации;

- Возможность проводить измерение любых поверхностей без необходимости покрывать их красителями;

- Увеличена системная производительность;

- Обработка данных в режиме реального времени.

- Возможность сохранения и архивирования данных об измерениях с возможностью их дальнейшего использования при анализе.

- Проецирование хаотичного светового узора на объект;

- Наличие трех цифровых камер по 4 мегапикселя, защищенных прочным корпусом от негативного внешнего воздействия;

- Использование лазерных светодиодов для освечивания с высокой мощностью.

                  Технические характеристики

Эксплуатационные параметры

Поле обзора камеры

500 мм x 500 мм

Глубина поля наблюдения

230 мм

Оптимальное рабочее расстояние

780 мм

Габаритные размеры

Оптическая головка сканера Hexagon Metrology WLS400 [W/Шир.x H/Высот.x D/Толщ.]

550 x 265 x 280, в мм

Контроллер Hexagon Metrology WLS400 [W/Шир.x H/Высот.x D/Толщ.]

510 x 210 x 245, в мм

Вес

Оптическая головка

8 кг

Блок контроллера

7,5 кг

Электрическая совместимость

Напряжение

100 В - 230 В, перем. тока, 50 Гц- 60 Гц

Мощность

0,7 кВт – в режиме макс. потребления

Условия при эксплуатации

Диапазон рабочих температур

5 ° C - 35° C (ограничен спецификациями ПК / портативного компьютера). Диапазон может быть расширен при использовании системы охлаждения

Рабочие условия по освещенности

низкая чувствительность к воздействию источников промышленного освещения, источников рассеянного света, внешней засветки и непрямого естественного освещения

Вибрации конструкции / здания

разработан для эксплуатации в условиях промышленного производства с применением тяжелых машин (штамповальных прессов, станков с ЧПУ, робототехники и проч.)

Программное обеспечение

Операционная система

Windows XP SP3

Компьютерная платформа

Переносной или настольный ПК.

Системное программное обеспечение

CoreView™ разработки Hexagon Metrology

Сертификация и стандарты

CE / TUV (Европейские стандарты и Немецкая служба технического контроля и надзора)

NEMA12 - Национальная ассоциация заводов по производству электротехнической продукции

VDI/VDE 2634, часть 2 – Стандарты интерфейсов виртуальных устройств и технические правила Общества немецких электриков - стандарты для оптических измерительных систем

Поверка единообразия измерений и метрологическая последовательность – по стандартным сопоставимым метрологическим эталонам NIST (Национального института стандартов и технологий)

ISO 9001:2000

Патенты

Сенсор модели Hexagon Metrology WLS400 и пакет поддерживающего программного обеспечения CoreView реализованы на основе инновационных и уникальных технологий, разработанных в компании Hexagon Metrology. Эти изделия были защищены совокупностью зарегистрированных патентов и другими заявками на патент, находящимися на рассмотрении